高/低温测试

2018-06-13 11:17:16 广东苏试广博测试技术有限公司| 已读

高/低温测试

试验项目简介

高温试验是模拟产品在贮存、装配和使用过程中的耐高温状况而进行的可靠性试验,高温试验也是最长用的加速寿命测试;

低温试验是确定产品在低温环境下贮存和工作的可靠性,包括低温贮存试验和低温工作试验。

试验参数

高温试验:试验温度、试验时间、升温速率;

低温试验:试验温度、试验时间、降温速率;

性能影响

高温试验:材料热老化、龟裂、变色、软化、熔融、膨胀,或功能性失效等;

低温试验:材料表面开裂、脆化,元器件电信号飘逸、性能改变、功能波动等;

推荐标准

GB/T 2423.1-2008 / IEC 60068-2-1:2007 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温  

GMW3172-2012 电气-电子元件通用规范-环境/耐久性 8.4.2低温唤醒

GJB150.4A-2009 军用设备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验

GJB150.4-1986 军用设备环境试验方法  低温试验

GJB4.3-1983 舰船电子设备环境试验 低温试验

GJB367A-2001 军用通信设备通用规范  A01低温试验

MIL-STD-810G-2008 环境工程考虑与实验室试验 第二部分:502.5低温

GJB4.4-1983舰船电子设备环境试验 低温贮存试验

ISO16750-4-2010  道路车辆 电气和电子设备的环境条件和试验第4部分:气候负荷 5.1.1低温试验

GB/T 28046.4-2011道路车辆电气及电子设备的环境条件和试验第4部分:气候负荷 5.1.1低温试验

VW80000 3.5吨以下汽车电气和电子部件试验项目、试验条件和试验要求9.1高温/低温存放 9.3低温工作

GB/T 2423.2 / IEC 60068-2-2:2007-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温

VW80000 3.5吨以下汽车电气和电子部件试验项目、试验条件和试验要求 9.1高温/低温存放  11.2高温耐久寿命试验

GMW3172-2012 电气-电子元件通用规范-环境/耐久性 9.4.1高温老化

GJB 150.3A-2009军用设备实验室环境试验方法 第4部分:高温试验

GJB4.2-1983 舰船电子设备环境试验 高温试验

GJB150.3-1986 军用设备环境试验方法 高温试验

GJB367A-2001 军用通信设备通用规范  A02高温试验

GJB360A-1996 电子及电气元件试验方法 方法108 高温寿命试验

GJB360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法108 高温寿命试验

MIL-STD-810G-2008 环境工程考虑与实验室试验 第二部分 501.5高温

ISO16750-4-2010 道路车辆-电气和电子设备的环境条件和试验第4部分:气候负荷 5.1.2高温试验                   

GB/T 28046.4-2011 道路车辆 电气及电子设备的环境条件和试验 第4部分:气候负荷5.1.2高温试验

GB/T 2423.22-2012 /IEC 60068-2-14-2009环境试验 第2-14部分:试验 试验N:温度变化   

GMW3172-2012 电气-电子元件通用规范-环境/耐久性 9.4.3 PTC带电温度循环 6.9端子的温度循环

RTCA-DO-160G:2010 机载设备的环境条件和测试程序  5温度变化

ISO16750-4-2010道路车辆 电气和电子设备的环境条件和试验 第4部分:气候负荷 5.2 温度变化  5.3 温度循环                   

GB/T 28046.4-2011 道路车辆 电气及电子装设备的环境条件和试验 第4部分:气候负荷 5.2 温度梯度  5.3 温度循环

VW80000  3.5吨以下汽车电气和电子部件试验项目、试验条件和试验要求9.2梯度温度试验  

JIS C 0025-1988  基本环境试验程序 第2部分:温度变化法

JESD22-A104C-2005  试验方法A104C 温度循环

GJB548B-2005  微电子器件试验方法和程序 方法 1010.1 温度循环

GJB128A-1997  半导体分立器件试验方法 方法1051 温度循环(空气-空气)


服务流程

about_ser.jpg

简体中文 ENGLISH